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缺陷编号:wooyun-2015-0100710
漏洞标题:某校园一卡通系统存在SQL注入
相关厂商:郑州新开普电子技术有限公司
漏洞作者: Taro
提交时间:2015-03-11 18:04
修复时间:2015-06-14 13:10
公开时间:2015-06-14 13:10
漏洞类型:SQL注射漏洞
危害等级:高
自评Rank:13
漏洞状态:已交由第三方合作机构(cncert国家互联网应急中心)处理
漏洞来源: http://www.wooyun.org,如有疑问或需要帮助请联系 [email protected]
Tags标签: 无
漏洞详情
披露状态:
2015-03-11: 细节已通知厂商并且等待厂商处理中
2015-03-16: 厂商已经确认,细节仅向厂商公开
2015-03-19: 细节向第三方安全合作伙伴开放
2015-05-10: 细节向核心白帽子及相关领域专家公开
2015-05-20: 细节向普通白帽子公开
2015-05-30: 细节向实习白帽子公开
2015-06-14: 细节向公众公开
简要描述:
rt.
详细说明:
http://ecard.sdca.edu.cn//Index_main.aspx?NewsClassCode=1
http://ecard.sdut.edu.cn/SelfSearch/Index_main.aspx?NewsClassCode=1
http://ecard.lzcc.edu.cn/SelfSearch/Index_main.aspx?NewsClassCode=1
http://yktweb.cqie.cn//Index_main.aspx?NewsClassCode=1
http://59.173.236.220/SelfSearch/Index_main.aspx?NewsClassCode=1
http://ecard.bzmc.edu.cn/Index_main.aspx?NewsClassCode=1
http://202.115.192.98/SelfSearch/Index_main.aspx?NewsClassCode=1
http://202.101.244.45/selfsearch/Index_main.aspx?NewsClassCode=1
http://ykt.szetop.com/selfsearch/Index_main.aspx?NewsClassCode=1
http://ecard.qhnu.edu.cn/selfsearch/Index_main.aspx?NewsClassCode=1
漏洞证明:
修复方案:
版权声明:转载请注明来源 Taro@乌云
漏洞回应
厂商回应:
危害等级:高
漏洞Rank:15
确认时间:2015-03-16 13:09
厂商回复:
CNVD确认所述情况,已经由CNVD通过网站公开联系方式(或以往建立的处置渠道)向网站管理单位(软件生产厂商)通报。
最新状态:
暂无